Semicera גיט די ינדאַסטרי-לידינגוואַפער קאַריערז, ענדזשאַנירד צו צושטעלן העכער שוץ און סימלאַס טראַנספּערטיישאַן פון יידל סעמיקאַנדאַקטער ווייפערז איבער פאַרשידן סטאַגעס פון די מאַנופאַקטורינג פּראָצעס. אונדזערוואַפער קאַריערזזענען מאַטיקיאַלאַסלי דיזיינד צו טרעפן די סטרינדזשאַנט פאדערונגען פון מאָדערן סעמיקאַנדאַקטער פאַבריקיישאַן, ינשורינג די אָרנטלעכקייַט און קוואַליטעט פון דיין ווייפערז זענען מיינטיינד אין אַלע צייט.
שליסל פֿעיִקייטן:
• פּרעמיום מאַטעריאַל קאַנסטראַקשאַן:געמאכט פון הויך-קוואַליטעט, קאַנטאַמאַניישאַן-קעגנשטעליק מאַטעריאַלס וואָס גאַראַנטירן געווער און לאָנדזשעוואַטי, מאכן זיי ידעאַל פֿאַר קלינראָאָם ינווייראַנמאַנץ.
•פּרעסיסיאָן פּלאַן:פֿעיִקייטן גענוי שפּעלטל אַליינמאַנט און זיכער האלטן מעקאַניזאַמז צו פאַרמייַדן ווייפער סליפּידזש און שעדיקן בעשאַס האַנדלינג און טראַנספּערטיישאַן.
•ווערסאַטאַל קאַמפּאַטאַבילאַטי:אַקאַמאַדייץ אַ ברייט קייט פון ווייפער סיזעס און געדיכטקייַט, פּראַוויידינג בייגיקייַט פֿאַר פאַרשידן סעמיקאַנדאַקטער אַפּלאַקיישאַנז.
•ערגאָנאָמיק באַהאַנדלונג:לייטווייט און באַניצער-פרייַנדלעך פּלאַן פאַסילאַטייץ גרינג לאָודינג און אַנלאָודינג, ענכאַנסינג אַפּעריישאַנאַל עפעקטיווקייַט און רידוסינג האַנדלינג צייט.
•קוסטאָמיזאַבלע אָפּציעס:אָפפערס קוסטאָמיזאַטיאָן צו טרעפן ספּעציפיש רעקווירעמענץ, אַרייַנגערעכנט מאַטעריאַל ברירה, גרייס אַדזשאַסטמאַנץ און לייבלינג פֿאַר אָפּטימיזעד וואָרקפלאָוו ינאַגריישאַן.
פֿאַרבעסערן דיין סעמיקאַנדאַקטער מאַנופאַקטורינג פּראָצעס מיט Semiceraוואַפער קאַריערז, די שליימעסדיק לייזונג פֿאַר באַוואָרעניש דיין ווייפערז קעגן קאַנטאַמאַניישאַן און מעטשאַניקאַל שעדיקן. צוטרוי אין אונדזער היסכייַוועס צו קוואַליטעט און כידעש צו צושטעלן פּראָדוקטן וואָס ניט בלויז טרעפן אָבער יקסיד ינדאַסטרי סטאַנדאַרדס, ינשורינג דיין אַפּעריישאַנז לויפן סמודלי און יפישאַנטלי.
| זאכן | פּראָדוקציע | פאָרשונג | דאַמי |
| קריסטאַל פּאַראַמעטערס | |||
| פּאָליטיפּע | 4H | ||
| ייבערפלאַך אָריענטירונג טעות | <11-20 >4±0.15° | ||
| עלעקטריקאַל פּאַראַמעטערס | |||
| דאָפּאַנט | n-טיפּ ניטראָגען | ||
| רעסיסטיוויטי | 0.015-0.025 אָהם · סענטימעטער | ||
| מעטשאַניקאַל פּאַראַמעטערס | |||
| דיאַמעטער | 150.0±0.2מם | ||
| גרעב | 350±25 μם | ||
| ערשטיק פלאַך אָריענטירונג | [1-100]±5° | ||
| ערשטיק פלאַך לענג | 47.5±1.5מם | ||
| צווייטיק פלאַך | קיינער | ||
| TTV | ≤5 μם | ≤10 μם | ≤15 μם |
| LTV | ≤3 μם (5 מם * 5 מם) | ≤5 μם (5 מם * 5 מם) | ≤10 μם (5 מם * 5 מם) |
| בויגן | -15μם ~ 15μם | -35μם ~ 35μם | -45μם ~ 45μם |
| וואָרפּ | ≤35 μם | ≤45 μם | ≤55 μם |
| פראָנט (סי-פּנים) ראַפנאַס (אַפם) | ראַ≤0.2נם (5μם*5μם) | ||
| סטרוקטור | |||
| מיקראָפּיפּע געדיכטקייַט | <1 עאַ / סענטימעטער2 | <10 עאַ/קם2 | <15 עאַ / סענטימעטער2 |
| מעטאַל ימפּיוראַטיז | ≤5ע10אַטאָמס/קם2 | NA | |
| BPD | ≤1500 עאַ/קם2 | ≤3000 עאַ/קם2 | NA |
| TSD | ≤500 עאַ/קם2 | ≤1000 עאַ / סענטימעטער2 | NA |
| פראָנט קוואַליטי | |||
| פראָנט | Si | ||
| ייבערפלאַך ענדיקן | סי-פּנים קמפּ | ||
| פּאַרטיקאַלז | ≤60 עאַ / וואַפער (גרייס ≥0.3μם) | NA | |
| סקראַטשיז | ≤5עאַ/מם. קיומיאַלאַטיוו לענג ≤דיאַמעטער | קיומיאַלאַטיוו לענג≤2*דיאַמעטער | NA |
| מאַראַנץ שאָלעכץ / פּיץ / סטאַינס / סטרייישאַנז / קראַקס / קאַנטאַמאַניישאַן | קיינער | NA | |
| ברעג טשיפּס / ינדענץ / בראָך / העקס פּלאַטעס | קיינער | ||
| פּאָליטיפּע געביטן | קיינער | קיומיאַלאַטיוו שטח≤20% | קיומיאַלאַטיוו שטח≤30% |
| פראָנט לאַזער מאַרקינג | קיינער | ||
| צוריק קוואַליטי | |||
| צוריק ענדיקן | C-פּנים קמפּ | ||
| סקראַטשיז | ≤5עאַ/מם,קיומיאַלאַטיוו לענג≤2*דיאַמעטער | NA | |
| צוריק חסרונות (ברעג טשיפּס / ינדענטז) | קיינער | ||
| צוריק ראַפנאַס | ראַ≤0.2נם (5μם*5μם) | ||
| צוריק לאַזער מאַרקינג | 1 מם (פון שפּיץ ברעג) | ||
| עדזש | |||
| עדזש | טשאַמפער | ||
| פּאַקקאַגינג | |||
| פּאַקקאַגינג | עפּי-גרייט מיט וואַקוום פּאַקקאַגינג מולטי-ווייפער קאַסעט פּאַקקאַגינג | ||
| * נאָטעס: "NA" מיטל קיין בעטן יטעמס ניט דערמאנט קען אָפּשיקן צו SEMI-STD. | |||
